高低溫箱對(duì)電子產(chǎn)品的用途：
高低溫試驗(yàn)箱是模擬自然高低溫變化環(huán)境，主要是用來(lái)對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行耐高溫，耐低溫測(cè)試檢測(cè)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1.箱門(mén)與工作室、外殼設(shè)有耐高溫密封條及壓緊裝置，有效的保證箱體的密封性和保溫性能。
2.高低溫試驗(yàn)箱的溫控儀采用進(jìn)口儀表，帶PID調(diào)節(jié)，SSR輸出，快速自整定，數(shù)字式顯示，讀數(shù)方便。
3.有超溫保護(hù)及控制回路過(guò)載保護(hù)、短路保護(hù)，使用安全可靠。
4.工作室及試品架為不銹鋼材料，外箱體為冷軋板噴塑而成，外形美觀(guān)。
5.制冷系統(tǒng)選用法國(guó)“泰康"原裝全密封壓縮機(jī)，確保高低溫試驗(yàn)箱的低溫穩(wěn)定性。高低溫試驗(yàn)箱的日常維護(hù)和對(duì)主要技術(shù)指標(biāo)的簡(jiǎn)易測(cè)試，能夠保證高低溫試驗(yàn)箱的工作處于*狀態(tài)。
高低溫試驗(yàn)箱維護(hù)保養(yǎng)需要注意的事項(xiàng)：
高低溫試驗(yàn)箱工作環(huán)境中的塵埃和腐蝕性氣體亦可以影響機(jī)械系統(tǒng)的靈活性、降低各種限位開(kāi)關(guān)、按鍵、光電偶合器的可靠性，也是造成必須學(xué)部件鋁膜銹蝕的原因之一。
2.高低溫試驗(yàn)箱的溫度和濕度是影響儀器性能的重要因素，其可以引起機(jī)械部件的銹蝕，使金屬鏡面的光潔度下降，引起高低溫試驗(yàn)箱機(jī)械部分的誤差或性能下降;造成高低溫試驗(yàn)箱光學(xué)部件如光柵、反射鏡、聚焦鏡等的鋁膜銹蝕，產(chǎn)生光能不足、雜散光、噪聲等，甚至儀器停止工作，從而影響高低溫試驗(yàn)箱的壽命，維護(hù)保養(yǎng)時(shí)應(yīng)定期加以校正。
3.高低溫試驗(yàn)箱使用一定周期后，內(nèi)部會(huì)積累一定量的塵埃，高低溫試驗(yàn)箱由維修工程師或在工程師指導(dǎo)下定期開(kāi)啟高低溫試驗(yàn)箱外罩對(duì)內(nèi)部進(jìn)行除塵工作，同時(shí)將各發(fā)熱元件的散熱器重新緊固，對(duì)光學(xué)盒的密封窗口進(jìn)行清潔，必要時(shí)對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)，對(duì)機(jī)械部分進(jìn)行清潔和必要的潤(rùn)滑，zui后，恢復(fù)原狀，再進(jìn)行一些必要的檢測(cè)、調(diào)校與記錄。

 第一類(lèi)是產(chǎn)品的性能參數(shù)不合格，出產(chǎn)的產(chǎn)品不符合運(yùn)用要求； 第二類(lèi)是潛在的缺陷，這類(lèi)缺陷不能用一般的檢驗(yàn)方法發(fā)現(xiàn)，而需求在運(yùn)用進(jìn)程中逐漸地被顯露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空泛、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

 一般這種缺陷需求在元器件作業(yè)于額定功率和正常作業(yè)溫度下工作一千個(gè)小時(shí)左右才華全部被激活（顯露）。顯著，對(duì)每只元器件檢驗(yàn)一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需求對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來(lái)加速這類(lèi)缺陷的提前顯露。

也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種概括的外部應(yīng)力，仿照嚴(yán)厲作業(yè)環(huán)境，消除加工應(yīng)力和剩下溶劑等物質(zhì)，使匿伏缺陷提前出現(xiàn)，從速使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)守時(shí)。

通過(guò)高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝置等出產(chǎn)進(jìn)程中存在的風(fēng)險(xiǎn)提前顯露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量，選擇除去失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的前期失效消除在正常運(yùn)用之用，從面保證出廠(chǎng)的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的檢測(cè)。

隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來(lái)越高，結(jié)構(gòu)越來(lái)越細(xì)微，工序越來(lái)越多，制造工藝越來(lái)越復(fù)雜，這樣在制造過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括有兩類(lèi)：

一類(lèi)是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；

二類(lèi)是潛在的缺陷，這類(lèi)缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露，硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然，對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如高低溫老化試驗(yàn)箱進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來(lái)加速這類(lèi)缺陷的提早暴露。

也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，高低溫老化試驗(yàn)箱模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期?！?/span>

　通過(guò)高低溫老化試驗(yàn)箱的測(cè)試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用，從面保證出廠(chǎng)的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。